H\u00e1 35 anos era publicado por G. Binnig e H. Rohrer, do IBM Zurich Research Laboratory em R\u00fcschlikon na Su\u00ed\u00e7a, o artigo reportando a t\u00e9cnica de Scanning Tunneling Microscopy (STM), ou Microscopia de Tunelamento com Varredura. O artigo intitulado “Scanning tunneling microscopy” foi publicado na Helvetica Physica Acta, 55 (1982) 726, descrevendo os princ\u00edpios da t\u00e9cnica, tecendo considera\u00e7\u00f5es sobre a instrumenta\u00e7\u00e3o relacionada e demonstrando aplica\u00e7\u00f5es na determina\u00e7\u00e3o de topografia de superf\u00edcie e espectroscopia de tunelamento. <\/p>\n\n\n\n
Conforme afirmado \u00e0 \u00e9poca pelos autores em seu artigo, a t\u00e9cnica abriu as portas para uma grande variedade de problemas interessantes relacionados a propriedades eletr\u00f4nicas de superf\u00edcies, estrutura de mol\u00e9culas adsorvidas, s\u00edtios preferenciais de absor\u00e7\u00e3o, crescimento, estrutura e propriedades el\u00e9tricas de filmes finos isolantes e muito mais. A t\u00e9cnica e os desenvolvimentos posteriores dela derivados ou a ela relacionados, como AFM (5 anos depois) tornaram-se extremamente importantes e tiveram enorme impacto na investiga\u00e7\u00e3o e caracteriza\u00e7\u00e3o de superf\u00edcies.<\/p>\n\n\n\n
A relev\u00e2ncia do trabalho fez com que Binnig e Rohrer fossem, juntamente com E. Ruska, agraciados com o pr\u00eamio Nobel de F\u00edsica de 1986.<\/p>\n\n\n\n