Título

INTRODUÇÃO AO OCTAVE E SUAS APLICAÇÕES NAS ANÁLISES DE DADOS NA ÓPTICA

Tutor

Prof. Wagner Ferreira da Silva (UFAL)

Carga horária

2h (16:00 – 18:00) – SALA 1

Dia

03/11/2019

Descrição

Cada dia mais temos um número maior de dados a serem tratados e analisados nos experimentos, o que demanda um grande tempo. Outras vezes, precisamos obter parâmetros através de ajustes de funções ou outros procedimentos numéricos. Para auxiliar neste, e em vários outros tipos de situações, ter um conhecimento básico em programação é algo imprescindível. Assim neste tutorial estaremos ensinando como utilizar o software Octave, que é gratuito, em problemas específicos que fazem parte do dia a dia de quem trabalha com óptica, como: (1) Ajustar uma função à dados experimentais para obter parâmetros físicos, como no caso do cálculo do tempo de vida; (2) Cálculo da sensibilidade térmica relativa; e (3) obtenção das coordenadas do diagrama cromático a partir de espectros de emissões. E certamente o aprendizado da elaboração dos programas para estes casos específicos, irão abrir caminhos para várias outras aplicações. A ideia é fazer um tutorial bem prático. Para isto, recomendamos aos participantes baixarem previamente o software através do link https://www.gnu.org/software/octave/, e levarem seus notebooks para o tutorial. Contudo, mesmo os que não possam levar seus computadores, poderão participar, pois, o tutorial será desenvolvido para abranger também aqueles que estejam sem computador no local.

 

Título

MOVIMENTO APARENTE DO SOL

Tutor

Prof. Elton Malta Nascimento (UFAL)

Carga horária

2h (14:00 – 16:00) – SALA 2

Dia

03/11/2019

Descrição

O Sol e seu movimento diário é sem dúvida um dos fenômeno natural de maior influência em nossas vidas. Apesar de sua relevância, sua complexidade e beleza muita das vezes é ignorada por este ser um movimento bastante corriqueiro em nossas vidas. Neste tutorial revisitaremos conceitos básicos sobre o movimento anual do Sol, como estações do ano, declinação do eixo de rotação da terra, plano da eclíptica e etc, incorporando elementos que adicionam mais informações aos conceitos já conhecidos e mostram detalhes dificilmente notados em simples observações, como a dependência exata entre as coordenadas geográficas do observador e o azimute no nascer e do ocaso do Sol, a relação entre zonas tropicais e polares com a declinação do eixo de rotação da terra, a duração da parte iluminada do dia ao longo do ano, condições para ocorrer o chamado  "sol da meia noite", quando e onde o comprimento da sombra de um objeto tem comprimento nulo, dentro outros outras curiosidades que certamente farão com que observemos o movimento do Sol com outro olhar.

 

Título

APLICAÇÕES DA DIFRAÇÃO DE RAIOS-X E MÉTODO RIETVELD NO ESTUDO DE FILMES FINOS E NANOPARTICULAS

Tutor

Prof. Alan Silva de Meneses (UFMA)

Carga horária

2h (14:00 – 16:00) – SALA 1

Dia

03/11/2019

Descrição

Devido à sua natureza ondulatória, os raios-X espalhados por uma amostra podem interferir entre si, de modo que a distribuição da intensidade é determinada pelo comprimento de onda, pelo ângulo de incidência dos raios-X e pelo arranjo atômico da estrutura da amostra. As técnicas de difração de raios-X evoluíram para muitas áreas especializadas. A difração de raios-X de monocristais é a técnica usada para resolver a estrutura completa de materiais cristalinos. Já a difração de raios-X em pó (XRPD) consiste na coleta de padrões de difração de raios-X a partir de amostras na forma de pó. Geralmente, a difração de raios-X de pó envolve a caracterização da estrutura cristalográfica, tamanho do cristalito, distribuição da orientação em amostras policristalinas, etc. As técnicas de difração de raios-X mais conhecidas são a difração de monocristais e a difração de pó. Contudo, há diversas técnicas de difração de raios-X que variam dependendo do tido de informação que se quer obter da amostra e do tipo de amostra a ser analisada. Essas aplicações incluem identificação de fases, análise de textura, medição de tensão, grau de cristalinidade, tamanho de cristalito e análise de filmes finos (amorfos, policristalinos ou monocristalinos). Neste minicurso, os participantes terão a oportunidade de conhecer algumas técnicas de difração de raios-X aplicadas no estudo de filmes finos e amostras policristalinas. As técnicas abordadas na análise de filmes finos serão: rocking curve, mapeamento do espaço recíproco, textura, tensão residual e refletividade. Já para amostras policristalinas, abordaremos a análise qualitativa de fases (identificação de fases em um padrão de difração). Alguns conceitos importantes sobre Método Rietveld serão passados e que permitem o seu uso na análise quantitativa de fases e na obtenção do tamanho de cristalito, seja esse isotrópico ou anisotrópico. Desta forma, os participantes terão a oportunidade de ter um contato com várias técnicas de difração de raios-X e como o uso destas técnicas pode beneficiar o estudo de suas amostras.

 

Título

OPTIMIZATION TECHNIQUES OF MICROWAVE ABSORPTION IN MATERIALS

Tutor

Prof. Charanjit Singh

Department of Electronics and Communication Engineering, Lovely Professional University, Phagwara, India

Carga horária

2h (16:00 – 18:00) – SALA 2

Dia

03/11/2019

Descrição

Now a days the electromagnetic pollution (electromagnetic interference) is everywhere with the advancement in information technology and electronic devices such as smart phone,     Wi-Fi, adhoc networks, military and domestic applications. Microwave absorbers have been utilized to suppress/attenuate this interference. The different materials and their composites have been investigated for absorber applications such as dielectric, magnetic and magneto-dielectric. The microwave absorption in materials is dependent on static i.e. hysteresis parameters (frequency independent) and dynamic i.e. complex permittivity-permeability parameters (frequency dependent). This workshop highlights the different parameters responsible for optimization of the absorption in the materials which include coercivity, anisotropy field, impedance matching, quarter wavelength mechanism, dielectric and magnetic loss etc.

 

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