35 anos de Microscopia de Tunelamento com Varredura

Há 35 anos era publicado por G. Binnig e H. Rohrer, do IBM Zurich Research Laboratory em Rüschlikon na Suíça, o artigo reportando a técnica de Scanning Tunneling Microscopy (STM), ou Microscopia de Tunelamento com Varredura. O artigo intitulado "Scanning tunneling microscopy" foi publicado na Helvetica Physica Acta, 55 (1982) 726, descrevendo os princípios da técnica, tecendo considerações sobre a instrumentação relacionada e demonstrando aplicações na determinação de topografia de superfície e espectroscopia de tunelamento. 

Conforme afirmado à época pelos autores em seu artigo, a técnica abriu as portas para uma grande variedade de problemas interessantes relacionados a propriedades eletrônicas de superfícies, estrutura de moléculas adsorvidas, sítios preferenciais de absorção, crescimento, estrutura e propriedades elétricas de filmes finos isolantes e muito mais. A técnica e os desenvolvimentos posteriores dela derivados ou a ela relacionados, como AFM (5 anos depois) tornaram-se extremamente importantes e tiveram enorme impacto na investigação e caracterização de superfícies.

A relevância do trabalho fez com que Binnig e Rohrer fossem, juntamente com E. Ruska, agraciados com o prêmio Nobel de Física de 1986.

Informações interessantes sobre o tema estão disponíveis em
https://journals.aps.org/prl/scanning-probe-microscopy

(A SBF agradece ao prof. Ivo A. Hümmelgen, da Universidade Federal do Paraná, pelo texto.)

 

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